在芯片测试领域，芯片测试箱作为核心设备，其内部环境的精准控制直接关乎芯片测试结果的可靠性。温湿度作为关键环境因素，需要极其精准的测量与监控设备。今天，为大家介绍两款专门适配芯片测试箱，助力芯片测试精准化的产品 ——JCJ200W和JCJ900M。

芯片测试箱内的环境 “侦察兵”

（一）**的测量性能

宽广温度测量范围：JCJ200W 的温度测量范围从-60℃跨越至150℃，这一特性完美契合芯片测试箱多样化的测试需求。在芯片研发与测试中，不同芯片对于工作温度的适应性不同，有些芯片需在极寒环境下测试其抗冻性能，有些则要在高温环境下验证稳定性 。比如在模拟芯片的极限工作温度测试时，JCJ200W能够精准捕捉箱内温度变化，为芯片性能评估提供可靠数据。

高精度温度把控：在0-50℃这一常用测试温度区间，其精度可达±0.5℃。芯片测试对温度精度要求近乎苛刻，微小的温度波动都可能干扰芯片电性能参数的准确性。JCJ200W的高精度测量，确保了芯片在这一关键温度区间的测试数据误差极小，有效提升芯片测试的可信度。

精准湿度测量：湿度范围覆盖0-100%RH，在20-90%RH、25℃且无凝露的条件下，精度可达±3%RH。芯片长期处于不适宜的湿度环境中，可能会出现引脚氧化、内部短路等问题。在芯片测试箱内，JCJ200W 能精确测量湿度，协助技术人员将湿度控制在安全范围内，保障芯片测试的顺利进行。

［ JCJ900M 采集箱］

芯片测试箱数据管理的 “智慧大脑”

（一）便捷的供电与实时显示功能

JCJ900M 采用 220VAC 供电，方便接入芯片测试箱所在的电力系统。它能实时显示温度和湿度，测试人员通过设备屏幕就能一目了然地掌握测试箱内温湿度动态。一旦温湿度出现异常波动，可及时采取措施，防止对芯片测试造成不利影响。

（二）强大的数据记录与导出功能

海量数据记录：具备 1 万条记录的存储能力，在芯片测试过程中，每一次温湿度数据都蕴含着芯片性能与环境关系的重要信息。通过长期记录测试箱内温湿度数据，研发人员可以分析出不同芯片在不同温湿度条件下的性能变化规律，为芯片优化设计提供数据支撑。

高效的数据导出：支持 usb 导出功能，测试人员可将记录的数据便捷地导出到电脑等设备上。利用专业数据分析软件对这些数据进行深度挖掘，能够进一步优化芯片测试流程，提高测试效率与准确性。

（三）适配测试箱空间的机箱设计

采用冷轧板壁挂机箱，对于空间有限的芯片测试箱而言，这种机箱设计不占用过多内部空间，同时便于安装与维护，确保 JCJ900M 能稳定地服务于芯片测试箱，为整个芯片测试流程提供可靠的数据支持。

随着芯片技术不断发展，对芯片测试箱内环境控制的要求也会越来越高。

JCJ200W和JCJ900M凭借自身优势，已然成为芯片测试箱的得力助手。未来，相信它们会不断升级迭代，持续为芯片测试行业提供更优质、更高效的服务，助力芯片测试迈向新的高度。如果您对如何优化芯片测试箱内环境测量与监控感兴趣，欢迎联系我们，共同探讨更多解决方案。